Оптически + атомный микроскоп силы, неразъемный
◆Интегрированный дизайн оптически metallographic микроскопа и атомного микроскопа силы, сильных функций
◆Оно имеет и оптически микроскоп и атомный микроскоп силы отображая функции, оба из которых могут работать в то же время без влияния одина другого
◆В то же время, оно имеет функции оптически 2D измерения и атомного измерения микроскопа 3D силы
-
◆Интегрированы голова обнаружения лазера и этап сканирования образца, структура очень стабилизирована, и противоинтерференционное сильно
◆Прибор зонда точности располагая, регулировка выравнивания пятна лазера очень легок
-
◆Образец привода одно-оси автоматически причаливает зонду вертикально, так, что подсказка иглы будет перпендикулярна к развертке образца
◆Метод умной иглы питаясь контролируемого мотор надутого пьезоэлектрического керамического автоматического обнаружения защищает зонд и образец
-
◆Система позиционирования ультравысокого увеличения оптически для того чтобы достигнуть точный располагать зоны сканирования зонда и образца
◆Интегрированный редактор потребителя коррекции блока развертки нелинейный, нанометр
-
-
-
-
-
-
-
-
Спецификация |
A62.4500 |
A622.4501 |
A62.4503 |
A62.4505 |
Режим работы |
Выстукивая режим
[Опционный] Режим контакта Режим трением Режим участка Магнитный режим Электростатический режим |
Режим контакта Выстукивая режим
[Опционный] Режим трением Режим участка Магнитный режим Электростатический режим |
Режим контакта Выстукивая режим
[Опционный] Режим трением Режим участка Магнитный режим Электростатический режим |
Режим контакта Выстукивая режим
[Опционный] Режим трением Режим участка Магнитный режим Электростатический режим |
Настоящая кривая спектра |
Кривая RMS-Z
[Опционный] Кривая силы F-Z |
Кривая RMS-Z Кривая силы F-Z |
Кривая RMS-Z Кривая силы F-Z |
Кривая RMS-Z Кривая силы F-Z |
XY ряд развертки |
20×20um |
20×20um |
50×50um |
50×50um |
XY разрешение развертки |
0.2nm |
0.2nm |
0.2nm |
0.2nm |
Ряд развертки z |
2.5um |
2.5um |
5um |
5um |
Разрешение развертки y |
0.05nm |
0.05nm |
0.05nm |
0.05nm |
Скорость развертки |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
Угол развертки |
0~360° |
0~360° |
0~360° |
0~360° |
Размер выборки |
Φ≤90mm H≤20mm |
Φ≤90mm H≤20mm |
Φ≤90mm H≤20mm |
Φ≤90mm H≤20mm |
XY двигать этапа |
15×15mm |
15×15mm |
25×25um |
25×25um |
Удар-поглощая дизайн |
Подвес весны |
Подвес весны Металл защищая коробку |
Подвес весны Металл защищая коробку |
- |
Оптически Syestem |
задача 4x Разрешение 2.5um |
задача 4x Разрешение 2.5um |
задача 10x Разрешение 1um |
Окуляр 10x План LWD APO 5x10x20x50x безграничности цифровая фотокамера 5.0M 10" монитор LCD, с измерять Освещение СИД Kohler Коаксиальный грубый & точный фокусировать |
Выход |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
Программное обеспечение |
Выигрыш XP/7/8/10 |
Выигрыш XP/7/8/10 |
Выигрыш XP/7/8/10 |
Выигрыш XP/7/8/10 |
-
Микроскоп |
Оптически микроскоп |
Электронный кинескоп |
Просматривая микроскоп зонда |
Максимальное разрешение (um) |
0,18 |
0,00011 |
0,00008 |
Примечание |
Погружение 1500x масла |
Отображать атомы углерода диаманта |
Отображать атомы углерода высоко-заказа графитообразные |
|
|
|
-
Взаимодействие Зонд-образца |
Сигнал измерения |
Информация |
Сила |
Сила электростатического поля |
Форма |
Течение тоннеля |
Настоящий |
Форма, проводимость |
Магнитная сила |
Участок |
Магнитная структура |
Сила электростатического поля |
Участок |
распределение заряда |
-
|
Разрешение |
Условия труда |
Работая Temperation |
Damge, который нужно попробовать |
Глубина осмотра |
SPM |
Уровень 0.1nm атома |
Нормальный, жидкостный, вакуум |
Комната или низкое Temperation |
Никакие |
Уровень 1~2 атомов |
TEM |
Пункт 0.3~0.5nm Решетка 0.1~0.2nm |
Глубокий вакуум |
Комната Temperation |
Небольшой |
Обычно <100nm> |
SEM |
6-10nm |
Глубокий вакуум |
Комната Temperation |
Небольшой |
10mm @10x 1um @10000x |
FIM |
Уровень 0.1nm атома |
Супер глубокий вакуум |
30~80K |
Damge |
Толщина атома |
-
-
-